Accueil pour visiter la cabine #8934 de BWT Pékin à l'expo de BIOS 2015, et cabine #934 à l'ouest 2015 de Photonics, au laser #1 le plus complet, au photonics, et à la conférence biomédicale d'optique pendant les 7-12 février 2015.
Les exposés techniques ont présenté par BWT Pékin au LASE - technologie laser et applications De haute puissance de diode XIII (conférence 9348) :
Session 5 : Fiabilité de dispositif de puissance élevée
Date : Lundi, le 9 février 2015
Temps : 8H00 DU MATIN - 8H20 DU MATIN
Papier 9348-19 : Étude de fiabilité des lasers simples multiples de diode d'émetteur d'intense luminosité
Présentateur : Thomas Yang
Les pompes d'intense luminosité basées sur les émetteurs simples multiples offrent des avantages significatifs dans la gestion et la fiabilité thermiques pour pomper les lasers de haute puissance de fibre. La vie des lasers de pompe d'intense luminosité sont des puces de diode laser et des paquets multi-émetteurs. Dans cette étude, nous avons optimisé les processus de liaison de puce pour différentes puces comprenant 9xxnm 10W-20W, types de 1470nm 6W qui étaient de divers fournisseurs autour du monde, et processus appropriés réalisés de liaison de puce pour produire la haute performance et fiable puce-sur-submount. Puis, en ce document, une série d'essais de durée accéléré a été exécutée sur l'émetteur 2 à 7 paquets d'émetteur avec les modules 9xxnm/105um couplés par fibre. Le MTTF de ces modules dépasse les heures 100k. En conclusion, nous présentons une étude distincte de fiabilité sur la diode 976nm couplée par fibre stabilisée par longueur d'onde.
Accueil pour visiter la cabine #8934 de BWT Pékin à l'expo de BIOS 2015, et cabine #934 à l'ouest 2015 de Photonics, au laser #1 le plus complet, au photonics, et à la conférence biomédicale d'optique pendant les 7-12 février 2015.
Les exposés techniques ont présenté par BWT Pékin au LASE - technologie laser et applications De haute puissance de diode XIII (conférence 9348) :
Session 5 : Fiabilité de dispositif de puissance élevée
Date : Lundi, le 9 février 2015
Temps : 8H00 DU MATIN - 8H20 DU MATIN
Papier 9348-19 : Étude de fiabilité des lasers simples multiples de diode d'émetteur d'intense luminosité
Présentateur : Thomas Yang
Les pompes d'intense luminosité basées sur les émetteurs simples multiples offrent des avantages significatifs dans la gestion et la fiabilité thermiques pour pomper les lasers de haute puissance de fibre. La vie des lasers de pompe d'intense luminosité sont des puces de diode laser et des paquets multi-émetteurs. Dans cette étude, nous avons optimisé les processus de liaison de puce pour différentes puces comprenant 9xxnm 10W-20W, types de 1470nm 6W qui étaient de divers fournisseurs autour du monde, et processus appropriés réalisés de liaison de puce pour produire la haute performance et fiable puce-sur-submount. Puis, en ce document, une série d'essais de durée accéléré a été exécutée sur l'émetteur 2 à 7 paquets d'émetteur avec les modules 9xxnm/105um couplés par fibre. Le MTTF de ces modules dépasse les heures 100k. En conclusion, nous présentons une étude distincte de fiabilité sur la diode 976nm couplée par fibre stabilisée par longueur d'onde.
